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Aktuelles: NIMS-Award für Innovationen in der berührungslosen Rasterkraftmikroskopie

Prof. Franz J. Gie?ibl erh?lt den japanischen Preis für seinen Beitrag zur Nanomaterialforschung

21. Juni 2024, von Karoline Stürmer

  • Physik
  • Auszeichnungen & Preise

?Dass ich erkenne, was die Welt im Innersten zusammenh?lt“. {web_name}e Vision, nach der Johann Wolfgang von Goethe 1808 seinen Protagonisten Heinrich Faust streben l?sst, bringt auch Prof. Franz J. Gie?ibls Forschung auf den Punkt. Mit seinem Rasterkraftmikroskop schaut er quasi in das Innerste von Materie und was sie dort verbindet.

?Unsere Welt ist aus Atomen aufgebaut und diese k?nnen wir mit Mikroskopen detektieren“, sagt Franz Gie?ibl vom Lehrstuhl für Experimentelle und Angewandte Physik an der Universit?t Regensburg. Der Physiker baut Mikroskope, mit denen sich nicht nur Atome beobachten lassen, sondern sogar die Verzerrungen in den Elektronenhüllen, die entstehen, wenn einzelne Atome Bindungen miteinander eingehen.

Jetzt wurde er für seine Forschung mit dem japanischen NIMS-Award 2024 ausgezeichnet. Das ?National Institute for Materials Science (NIMS)“ ist das nationale japanische Forschungs- und Entwicklungsinstitut mit Hauptsitz Tsukuba n?rdlich von Tokio. Das NIMS hat sich zum Ziel gesetzt, auf dem Gebiet der Materialwissenschaften und -technologie Errungenschaften auf Weltklasse-Niveau zu schaffen. Das Institut verlieh Gie?ibl den Preis für seinen Beitrag zur Nanomaterialforschung durch Innovationen in der berührungslosen Rasterkraftmikroskopie (englisch atomic force microscope, abgekürzt AFM).

Schon vor mehr als zehn Jahren entwickelt Gie?ibl Sensoren, mit der sich die Oberfl?chen von nicht-metallischen Proben mit einer bis dahin nie realisierten Aufl?sung darstellen lassen. So k?nnen Forschende beispielsweise bestimmen, wo ein bestimmtes Atom im Kristallgitter sitzt. {web_name}e Frage spielt eine Rolle, wenn etwa ein neuer Katalysator entwickelt werden soll.

Die sogenannten qPlus-Sensoren bestehen an ihrer Spitze quasi nur aus einem einzigen Atom. Der Querbalken, an dem die Spitze befestigt ist, schwingt mit einer pr?zisen Frequenz, ?hnlich wie ein Quarzkristall in einer besonders exakt gehenden Uhr. Ein Prinzip, das auf der Quarz-Stimmgabel einer elektronischen Uhr basiert. Bei der berührungslosen AFM wird die schwingende Spitze in einem engen Abstand rasterf?rmig über die Probenoberfl?che geführt. Dabei werden die winzigen Kr?fte zwischen der Sonde und der Struktur erfasst, die durch die Atome gebildet werden. Ein Computer setzt diese Signale dann zu einem atomaren Bild der Oberfl?che zusammen.

Im Vergleich zu den bisher verwendeten Cantilever-Sensoren hat der qPlus-Sensor zwei wesentliche Vorteile:

- Eine sehr hohe Federkonstante, erm?glicht ihm, Kr?fte mit kurzer Reichweite mit hoher Empfindlichkeit bei Amplituden von nur einigen zehn Pikometern zu erfassen, was mit Cantilever-Sensoren unerreichbar war. Dadurch wurde der Kontrast auf atomarer Ebene drastisch verbessert.

- Bei Cantilever-Sensoren muss die Biegung des Federbalkens mit einem Laser oder einer ?hnlichen Methode erfasst werden. Der qPlus-Sensor hingegen ist ein Kraftsensor, der aus einem Uhrenquarz-Oszillator modifiziert wurde und wegen der piezoelektrischen Eigenschaften des Materials Quarz eine Balkenbiegung sofort in ein elektrisches Signal umsetzt.

Rasterkraftmikroskope, die den von Prof. Dr. Franz J. Gie?ibl entwickelten qPlus-Sensor verwenden, wurden in den vergangenen Jahren kommerziell vermarktet. Weltweit sind bisher mehr als 500 Stück im Einsatz. Der qPlus-Sensor wird in fast allen Rasterkraftmikroskopen eingesetzt, die bei extrem niedrigen Temperaturen und im Ultrahochvakuum arbeiten. Au?erdem hat die Verwendung des qPlus-Sensors erstmals die Beobachtung der inneren Struktur von Molekülen erm?glicht. Dadurch haben sich Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskope, die mit dem qPlus-Sensor ausgestattet sind, zu unverzichtbaren Werkzeugen in der Oberfl?chenchemie entwickelt. Insgesamt hat der Einsatz dieser Instrumente die Oberfl?chenphysik und -chemie erheblich vorangebracht, begründet die Jury ihre Entscheidung.

Die NIMS-Preisverleihung findet am Mittwoch, den 6. November 2024, im Tsukuba International Congress Center im Rahmen des NIMS Award Symposium 2024 statt.

?ber den Preis:

Seit 2007 verleiht NIMS den internationalen NIMS-Award an Forscher für herausragende Leistungen im Bereich der Materialwissenschaft und -technologie. NIMS teilt die Themen der Materialwissenschaft grob in vier Bereiche* ein und w?hlt jedes Jahr die Gewinner aus einem anderen Bereich aus. In diesem Jahr wurden führende Wissenschaftler aus der ganzen Welt gebeten, Kandidaten aus dem Bereich der grundlegenden Materialwissenschaft zu nominieren, die praktische Anwendungen initiiert und einen bedeutenden Einfluss auf die Gesellschaft haben. Der Auswahlausschuss für den NIMS-Award, der sich aus unabh?ngigen Experten zusammensetzt, führt dann ein strenges Auswahlverfahren durch.

*Die vier Bereiche sind:

1. Materialien für Umwelt und Energie, 2. funktionelle Materialien, 3. strukturelle Materialien und 4. Grundlagen der Materialwissenschaft.

? Franz J. Gie?ibl
Sensor und ein damit abgebildetes Atom. Links: qPlus Sensor; Rechts: Subatomar aufgel?stes Bild eines Eisenatoms, erzeugt mit einem qPlus-Rasterkraftmikroskop.
? Paula Held
Prof. Dr. Franz J. Gie?ibl

Kontakt aufnehmen

Prof. Dr. Franz J. Giessibl

Quanten-Nanowissenschaft
Institut für Experimentelle und Angewandte Physik
Universit?t Regensburg
Tel+49 (0) 941 943?2105
Franz.Giessibl@physik.uni-regensburg.de

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